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 I*与F*的不同：
     I*只测导通状态，可侦测元件开短路，LCR的数值，二*管的反向，其它半导体的通断等等。他的原理是将影响该元件的其它元件屏蔽起来单独测试一个或串并联的一组元件。
F*不一样，即是指功能测试，它是对PCBA通过相关的电压或信号检查其关键元件或输出的波形，真值是否合格。不针对元件测试。当然，如果元件失败，功能是*会有影响的。
I*有通用测试仪，F*只能根据具体的测试要求来做。
    F*治具有电动/汽缸/手动快速夹、手动曲柄等各式机构。结构材料可跟据需要采用*电木、压克力、铝合金、铁质、赛钢或纤维板等。根据需要可以采用上下植针进行测试，应用于电脑电源主板、LED灯主板、液晶电视主板、通信设备主板等电子产品。依据控制模式的不同，可以分为手动控制功能测试、半自动控制功能测试、全自动控制功能测试。